Das STFI hat ein neues Rasterelektronenmikroskop QUANTA FEG 250 der Firma FEI in Betrieb genommen. Dieses ist mit Detektoren für Arbeiten unter Hochvakuum und einem ESEM-Mode ausgestattet, die für textile Proben sowohl Aufnahmen als auch Messungen im Nano-Bereich zulassen. Aufgrund der Feldemissions-Elektronenquelle ist die Belastung der Proben unter dem Elektronenstrahl minimal, so dass ihr Ausgangszustand unverändert abgebildet werden kann. So können nun auch Viskosefasern bei 15 kV Beschleunigungsspannung abgebildet werden (siehe Foto). Für die Materialanalyse wurde ein EDX-System der Serie QUANTAX (Bruker) mit Leichtelementdetektor (XFlash 5030) ergänzt. Neben neuen Darstellungsmöglichkeiten der Ergebnisse (Mapping) bietet das System die Nutzung des L-Niveaus zur Energieauswertung für eine sicherere Elementebestimmung.